Waveshare IC51-1764-1995-6, Socket di Test e Burn-in

Scopri un'efficienza di test migliorata con l'IC51-1764-1995-6, il Socket di Test e Burn-in Yamaichi. Progettato per pacchetti QFP176, TQFP176, FQFP176 e PQFP176, questo socket di precisione offre una piattaforma affidabile per valutare dispositivi semiconduttori avanzati.

Con un design robusto a conchiglia, il socket assicura un contatto sicuro ed efficiente, riducendo il rischio di danni ai pin delicati durante i test. I materiali di alta qualità garantiscono durata e longevità, anche sotto cicli termici intensi.

Ideale per l'utilizzo in una varietà di applicazioni di test e burn-in, l'IC51-1764-1995-6 facilita l'inserimento e la rimozione rapida dei pacchetti IC, migliorando notevolmente la produttività. La sua eccellente capacità di dissipazione del calore assicura prestazioni costanti anche in condizioni difficili.

Con il suo funzionamento intuitivo, questa presa è progettata per semplificare i tuoi processi di test elettronici, proprio come un direttore d'orchestra che guida un'orchestra verso una sinfonia armoniosa. Affidabile, precisa ed efficiente, questa presa è una risorsa fondamentale in qualsiasi configurazione di test.